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ETEKT+ LOW-E鑒別儀
  • ETEKT+ LOW-E鑒別儀
  • 概述： ETEKT+Low-E鑒別儀采用專利技術(shù)設(shè)計(jì)，用于判斷單片玻璃、中空玻璃或三玻兩腔的玻璃是否鍍有Low-E膜，并檢測出Low-E膜的位
  • 2016-02-14 16:31  [華北北京]
  •    北京奧博泰科技有限公司  [已核實(shí)]
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單片LOW-E膜面鑒別儀
  • 單片LOW-E膜面鑒別儀
  • 概述：AE3600單片LOW-E膜面鑒別儀，用于判斷單片玻璃、中空玻璃是否鍍有LOW-E膜，并檢測出LOW-E膜的位置。測量對象：單片Low-E鍍
  • 2016-02-14 16:31  [華北北京]
  •    北京奧博泰科技有限公司  [已核實(shí)]
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陽光系數(shù)LOW-E膜面鑒別儀
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四探針面電阻測量儀
  • 四探針面電阻測量儀
  • 概述： 本儀器用于測量鍍膜玻璃的面電阻，或稱方塊電阻（Ohm/sq.）。 測量對象：表面導(dǎo)電的Low-E鍍膜玻璃特性：四探針式測量，準(zhǔn)
  • 2016-02-14 16:31  [華北北京]
  •    北京奧博泰科技有限公司  [已核實(shí)]
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四探針面電阻測量儀
  • 四探針面電阻測量儀
  • 概述： 本儀器用于測量鍍膜玻璃的面電阻或稱方塊電阻（Ohm/sq.）。測量對象：表面導(dǎo)電的Low-E鍍膜玻璃TCO光伏玻璃、ITO玻璃、觸摸
  • 2016-02-14 16:31  [華北北京]
  •    北京奧博泰科技有限公司  [已核實(shí)]
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厚度及LOW-E膜面鑒別儀
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雙中空厚度及LOW-E鑒別儀
 面議
 
紫外光透過率計(jì)
  • 紫外光透過率計(jì)
  • 概述：本儀器用于測量待測樣片的紫外光透過率。測量對象：玻璃薄膜塑料其他鍍膜材料特性： 實(shí)時測量，實(shí)時顯示測量結(jié)果； 設(shè)計(jì)小
  • 2016-02-14 16:31  [華北北京]
  •    北京奧博泰科技有限公司  [已核實(shí)]
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可見光透過率及功率計(jì)
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紫外陽光雙透過率計(jì)
  • 紫外陽光雙透過率計(jì)
  • 概述： 本儀器用于測量樣品的紫外透過率和陽光透過率。測量對象：玻璃 薄膜 塑料 其他鍍膜材料特性： 實(shí)時測量，實(shí)時顯示測量結(jié)果
  • 2016-02-14 16:31  [華北北京]
  •    北京奧博泰科技有限公司  [已核實(shí)]
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